| 标题 |
[高分]
FG Width Scalability of the 3-D Vertical FG NAND Using the Sidewall Control Gate (SCG) |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEICE Transactions on Electronics 作者:Moon-Sik SEO; Tetsuo ENDOH 出版日期:2012 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)