| 标题 |
 TAFF-YOLO: An Enhanced YOLO Model With Transformer and Attention Feature Fusion for Chip Internal Defect Detection 相关领域
炸薯条
变压器
计算机科学
特征（语言学）
人工智能
融合
传感器融合
电子工程
工程类
电气工程
电信
电压
语言学
哲学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者：Wenxin Niu; Jianqiang Mei; Dawei Zhang; Yue Li; Fan Jia; et al 出版日期：2025-08-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
小青椒
归尘
changping
zcl
子车茗
ceeray23
xxfsx
核桃
风吹麦田
殷勤的紫槐
从容芮
GingerF
Criminology34
无极微光
Zx_1993
无敌霸王花
哈基米德
小杭76
Aluhaer
yznfly
干饭虫
eric888
闫什
研究生end
wangwang
昏睡的蟠桃
Rubby
皖公网安备34019202002308
