标题 |
![]() 模拟试图逃逸频率:三维NAND闪存隧穿氧化物中俘获电子的隧穿发射
相关领域
量子隧道
电子
闪光灯(摄影)
与非门
光电子学
闪存
物理
材料科学
原子物理学
凝聚态物理
逻辑门
电气工程
量子力学
计算机科学
光学
工程类
操作系统
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:M. Jin; Hyungcheol Shin 出版日期:2025-08-26 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|