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 Influences of atomic force microscopy probe on the electrical properties of rubrene crystal device 原子力显微镜探针对红荧烯晶体器件电学性能的影响
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期刊：CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY (CHINESE VERSION) 作者：Xu-Zhao ZHANG; Shujing Gao; Yingjie Qu; Haiting Wang 出版日期：2023-01-21 |
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