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Leakage current characteristics affected by crystallinity and domain wall current of epitaxial Bi5Ti3FeO15 thin films 相关领域
结晶度
薄膜
材料科学
泄漏(经济)
外延
垂直的
脉冲激光沉积
光电子学
复合材料
纳米技术
几何学
宏观经济学
图层(电子)
数学
经济
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Hyun Wook Shin; Jong Yeog Son 出版日期:2023-11-08 |
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