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![]() 单层XN2(X Ti,Zr,Hf):基于密度泛函理论的具有高稳定性、同时具有高电子和空穴迁移率的新型二维材料
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期刊:Materials today communications 作者:Xiaofei Sheng; Shi Chen; Wen-Bin Kang; Wenyu Fang 出版日期:2022-06-01 |
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