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GAN-based statistical modeling with adaptive schemes for surface defect inspection of IC metal packages
基于GAN的集成电路封装表面缺陷自适应统计建模
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期刊:Journal of intelligent manufacturing 作者:Zhenshuang Wu; Nian Cai; Kaiqiong Chen; Hao Xia; Shuai Zhou; et al 出版日期:2023-05-23 |
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