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Unique Thickness-Dependent Properties of the van der Waals Interlayer Antiferromagnet MnBi 2 Te 4 Films |
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期刊:Physical Review Letters 作者:M. M. Otrokov; I. P. Rusinov; M. Blanco-Rey; M. Hoffmann; A. Yu. Vyazovskaya; et al 出版日期:2019-03-13 |
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