| 标题 |
A Digital Twin Framework With Deep Feature Extraction and Gaussian Process for Multi-Objective Optimization in Semiconductor Manufacturing 相关领域
半导体器件制造
高斯过程
计算机科学
过程(计算)
高斯分布
算法
趋同(经济学)
数学优化
特征(语言学)
特征提取
钥匙(锁)
缩小
碳化硅
机械加工
高斯滤波器
过程变量
最优化问题
过程控制
工程类
人工智能
吞吐量
设定值
迭代法
迭代和增量开发
克里金
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Automation Science and Engineering 作者:Chin-Yi Lin; Tzu-Liang Tseng; Tsung-Han Tsai 出版日期:2026-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)