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 Study of Defect Structure of Silicon Doped with Dysprosium Using X-Ray Phase Analysis and Raman Spectroscopy 用X射线相分析和拉曼光谱研究镝掺杂硅的缺陷结构
相关领域
镝
拉曼光谱
材料科学
硅
兴奋剂
相（物质）
光谱学
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无机化学
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量子力学
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期刊：East European Journal of Physics 作者：Kh.S. Daliev; Sharifa B. Utamuradova; Jonibek J. Khamdamov; Shahriyor B. Norkulov; Mansur B. Bekmuratov 出版日期：2024-12-08 |
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