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Recent advances in defect-selective etching of GaN 相关领域
蚀刻(微加工)
材料科学
外延
共晶体系
光电子学
透射电子显微镜
腐蚀坑密度
纳米技术
复合材料
微观结构
图层(电子)
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期刊:Journal of Crystal Growth 作者:J.L. Weyher; Paul D. Brown; Jean‐Luc Rouvière; T. Wosiński; A. Zauner; et al 出版日期:2000-03-01 |
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