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 Decoupling Polarization and Trap Charges by Direct Vmid Measurement for Insights into Dynamic Mechanisms of MFMIS-FeFET 通过直接Vmid测量解耦极化和陷阱电荷以了解MFMIS-FeFET的动力学机制
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期刊：2025 9th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) 作者：Wenpu Luo; Runteng Zhu; Hanyong Shao; Yuejia Zhou; Ru Huang; Kechao Tang 出版日期：2025-07-01 |
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