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 Structural Characterization of Dot-Core GaN Substrates with Annealing Under Growth-Like Conditions Using Synchrotron Monochromatic X-ray Topography 用同步辐射单色X射线形貌表征点核GaN衬底在类生长条件下退火的结构
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Yekan Wang; Michael E. Liao; Kenny Huynh; A.A. Allerman; Mark S. Goorsky 出版日期：2021-04-01 |
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