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 EED: Enhanced Edge Detection Algorithm via Generalized Integer and Fractional-Order Operators EED：通过广义插值和分数阶运算符的增强边缘检测算法
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期刊：Circuits Systems and Signal Processing 作者：N. Ramesh Babu; Sanjay Kumar; P. Balasubramaniam 出版日期：2022-04-28 |
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