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Determination of Hafnium Zirconium Oxide Interfacial Band Alignments Using Internal Photoemission Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy
内光电子能谱和X射线光电子能谱测定铪锆氧化物界面带排列
相关领域
X射线光电子能谱
材料科学
铪
光电发射光谱学
分析化学(期刊)
锆
光谱学
铁电性
氧化物
光电子学
核磁共振
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期刊:ACS applied materials & interfaces 作者:Melanie A. Jenkins; Konner E. K. Holden; Sean W. Smith; Michael T. Brumbach; Michael David Henry; et al 出版日期:2021-03-22 |
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