标题 |
Investigating the effect of thickness on the structural, morphological, optical and electrical properties of AgBiSe2 thin films
厚度对AgBiSe2薄膜结构、形貌、光电性能影响的研究
相关领域
薄膜
材料科学
微晶
带隙
电介质
高分辨率透射电子显微镜
选区衍射
分析化学(期刊)
粒度
铋
光学
透射电子显微镜
复合材料
光电子学
化学
纳米技术
冶金
物理
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of alloys and compounds 作者:Talaat A. Hameed; Ahmed R. Wassel; I.M. El Radaf 出版日期:2019-10-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|