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Investigation and Application of Two-Level Random Telegraph Noise in Ti/HfO x /TiN RRAM Using 3-D Multiphysics Modeling |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Dejiang Mu; Pan Liu; Qundao Xu; Yujian Zhong; Zifei Cai; et al 出版日期:2025-10-14 |
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(2025-6-4)