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Synergistic Effects of Total Dose Gamma-Ray Radiation and High-Temperature Reverse Bias Stress on the Performance of SiC MOSFETs |
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期刊:Chinese Physics B 作者:Shengrong Zhong; Kun Yang; Yuan Cao; Cheng Chen; Hongfei Cao; et al 出版日期:2026-03-04 |
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(2025-6-4)