| 标题 |
[高分]
 Single-Electron-Sensitive SiC Detector for Energy Spectroscopy, Time-Resolved Characterization, and Scattering Electron Imaging in Electron Microscopy |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：Weizong Xu; Renjie Xu; Jiuzhou Zhao; Yue Guo; Tao Miao; et al 出版日期：2025-12-06 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
null
Maestro_S
无极微光
Criminology34
cdercder
秋风
嘻嘻哈哈
aaaa
v0id
彭于彦祖
吃葡萄不吐葡萄皮
369ninja
Nole
04d
学术文献互助
suhai
anz1
风吹麦浪
奔跑
七听
皖公网安备34019202002308
