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Gate Length Influence on the Strain of the AlGaN Barrier Layer under the Gate in AlGaN/AlN/GaN HFETs at Different Temperatures 不同温度下栅极长度对AlGaN/AlN/GaN HFET栅极下AlGaN势垒层应变的影响
相关领域
材料科学
阻挡层
图层(电子)
拉伤
光电子学
复合材料
医学
内科学
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| 其它 |
期刊:Semiconductors 作者:Yan Liu; Simin Chen; Xiaohua Ma; Zhiqun Cheng; Tao Wang 出版日期:2024-08-01 |
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