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  Reliability analysis of Multi-Layer Ceramic Capacitors based on BaTiO3 and their Mechanism of Insulation resistance degradation BaTiO3基多层陶瓷电容器的可靠性分析及其绝缘电阻退化机理
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期刊：Ceramist 作者：Ku-Tak Lee; Jinsung Chun; Wook Jo 出版日期：2023-06-30 |
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