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 Efficient electrical properties modulation of wafer-scale top gated MoS2 transistors via non-destructive annealing 通过非破坏性退火有效调制晶片级顶部栅MoS2晶体管的电性能
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期刊：Journal of Material Science and Technology 作者：Jinshu Zhang; Yuxuan Zhu; Xiangqi Dong; Zhejia Zhang; Saifei Gou; et al 出版日期：2025-05-22 |
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