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Using High Dielectric Constant HfO₂/ZrO₂ Superlattice Dielectrics to Enhance Ge Stacked Nanosheets Gate-All-Around Transistor Performance |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Yi-Wen Lin; Chen-You Wei; Kai-Wei Huang; Tzu-I Kao; Jun-Wei Wu; et al 出版日期:2025-07-01 |
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(2025-6-4)