| 标题 |
Characterization of electron-beam deposited tungsten films on sapphire and silicon |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 作者:J. H. Souk; J. F. O’Hanlon; J. Angillelo 出版日期:2002-07-27 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)