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 Strain Induced Bandgap Engineering in Wafer‐Scale Hexagonal Boron Nitride Thick Epitaxial Films for Broadband Solar‐Blind Ultraviolet Detection 相关领域
材料科学
带隙
光电子学
紫外线
化学气相沉积
蓝宝石
宽禁带半导体
外延
极限抗拉强度
光电探测器
直接和间接带隙
制作
应变工程
金属有机气相外延
复合材料
薄膜
光电流
氮化镓
抗压强度
氮化物
通量
光学
硅
压力（语言学）
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期刊：Advanced Optical Materials 作者：Runzhi An; Xiang Fang; Wencan Yao; Danni Zhao; Zhongyuan Han; et al 出版日期：2026-06-13 |
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