| 标题 |
 Confocal Micro-PL Mapping of Defects in CdTe Epilayers Grown on Si (211) Substrates with Different Annealing Cycles 相关领域
退火（玻璃）
碲化镉光电
激光线宽
材料科学
扫描电子显微镜
光致发光
光电子学
腐蚀坑密度
共焦
衍射
分析化学（期刊）
共焦激光扫描显微镜
光学
纳米技术
化学
激光器
复合材料
生物物理学
蚀刻（微加工）
生物
物理
图层（电子）
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Electronic Materials 作者：Henan Liu; Yong Zhang; Yuanping Chen; P. S. Wijewarnasuriya 出版日期：2014-04-17 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
嘻嘻哈哈
Copyright
OK
lili
迷人的天抒
学术文献互助
不潮薯饼
竹青
路豐遙
GingerF
Raftaar
Criminology34
haijun
LL
skearthy
Nole
星野
清平道人
MchemG
皖公网安备34019202002308
