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Conductive filament evolution dynamics revealed by cryogenic (1.5 K) multilevel switching of CMOS-compatible Al 2 O 3 /TiO 2 resistive memories |
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期刊:Nanotechnology 作者:Yann Beilliard; François Paquette; Frédéric Brousseau; Serge Ecoffey; Fabien Alibart; Dominique Drouin 出版日期:2020-07-17 |
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