| 标题 |
 Four-Port Probe Calibration Using 64-Term Error Model for On-Wafer S-Parameter Measurement of Microwave Circuits Up to 110 GHz 相关领域
校准
微波食品加热
电子线路
电子工程
散射参数
端口（电路理论）
薄脆饼
期限（时间）
等效电路
单片微波集成电路
微波工程
观测误差
电气工程
材料科学
光电子学
计算机科学
工程类
物理
电压
数学
CMOS芯片
电信
量子力学
统计
放大器
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Circuits and Systems I Regular Papers 作者：Jiefeng Zhou; Ling Zhang; Ziyang Chen; Da Li; Jun Fan; et al 出版日期：2025-04-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
GingerF
cdercder
渡人舟
Criminology34
6666
囧囧
arniu2008
OK
无奈的梦凡
修仙中
馨馨的科科
Nole
外向又夏
Dong021
无极微光
MeiyanZou
369ninja
实验室
核桃
aajhajkahna
皖公网安备34019202002308
