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X-ray photoelectron spectroscopy and spectroscopic ellipsometry analysis of the p-NiO/n-Si heterostructure system grown by pulsed laser deposition 相关领域
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期刊:Thin Solid Films 作者:Savita Chaoudhary; Avijit Dewasi; Sahadeb Ghosh; R. J. Choudhary; D. M. Phase; et al 出版日期:2021-12-27 |
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