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Investigation of effective-medium models of microscopic surface roughness by spectroscopic ellipsometry 用光谱椭偏法研究微观表面粗糙度的有效介质模型
相关领域
材料科学
表面粗糙度
表面光洁度
散射
成核
光学
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凝聚态物理
光散射
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计算物理学
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物理
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期刊:Physical review. B, Condensed matter 作者:D. E. Aspnes; J. B. Theeten; F. Hottier 出版日期:1979-10-15 |
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