| 标题 |
 Defect detection and size classification in CdTe samples in 3D 三维CdTe样品的缺陷检测和尺寸分类
相关领域
扫描仪
模块化设计
半导体
探测器
碲化镉光电
材料科学
样品（材料）
光电子学
分辨率（逻辑）
半导体探测器
信号（编程语言）
光学
计算机科学
物理
人工智能
程序设计语言
操作系统
热力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Instrumentation 作者：M. Väänänen; M. Kalliokoski; R. Turpeinen; M. Bezak; P. Luukka; et al 出版日期：2024-12-01 |
| 求助人 |
Suji
在
2025-08-27 06:12:12 发布，悬赏 10 积分
|
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
xjcy
Meyako
不配.
8R60d8
Zoo
CAOHOU
MMMMM
小青椒
猪猪hero
风清扬
子车茗
期待未来的自己
null
fang
核桃
dreamlightzy
忧心的曼凝
Billy
蛇從革
七月流火
皖公网安备34019202002308
