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 Defect detection and size classification in CdTe samples in 3D 三维CdTe样品的缺陷检测和尺寸分类
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期刊：Journal of Instrumentation 作者：M. Väänänen; M. Kalliokoski; R. Turpeinen; M. Bezak; P. Luukka; et al 出版日期：2024-12-01 |
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