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A Label-Free Measurement Method for Plane Stress States in Optical Isotropic Films with Spectroscopic Ellipsometry 光学各向同性薄膜平面应力状态的无标记椭圆偏振光谱测量方法
相关领域
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期刊:Experimental Mechanics 作者:Xin Sun; Shuang Wang; Xing Wu; Xi Cheng; Lin Li; et al 出版日期:2024-01-24 |
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