| 标题 |
 Prediction of reliability on thermoelectric module through accelerated life test and Physics-of-failure 用加速寿命试验和失效物理预测热电组件的可靠性
相关领域
威布尔分布
可靠性（半导体）
材料科学
热电效应
可靠性工程
加速度
机械工程
核工程
工程物理
复合材料
工程类
物理
热力学
数学
统计
功率（物理）
经典力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Electronic Materials Letters/Electronic materials letters 作者：Hyoung-Seuk Choi; Won‐Seon Seo; Duck–Kyun Choi 出版日期：2011-09-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
个性的紫菜
酸化土壤改良
张泽崇
gjww
shinysparrow
寻道图强
star
benben
学习快乐
忐忑的远山
坚强的广山
小尹同学
寻寻觅觅呢
凤凰
宜醉宜游宜睡
SOLOMON
林宥嘉
iVANPENNY
不安青牛
sars518
皖公网安备34019202002308
