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 Tunneling‐Induced Dark Current Suppression in Bi 2 Se 3 /MoTe 2 Type‐III Heterostructures for Ultrabroadband UV‐to‐THz Detection 相关领域
响应度
暗电流
太赫兹辐射
光探测
光电子学
材料科学
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电导率
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量子隧道
热辐射计
电阻率和电导率
限制
电子能带结构
传输（电信）
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期刊：Laser & Photonics Reviews 作者：Tianyu Shu; Zhicheng Lin; Chao Tan; Guohua Hu; Siyuan Luo; et al 出版日期：2026-04-06 |
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