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 Overcoming contrast reversals in focused probe ptychography of thick materials: An optimal pipeline for efficiently determining local atomic structure in materials science 克服厚材料聚焦探针ptychography中的对比度反转：材料科学中有效确定局部原子结构的最佳管道
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Chuang Gao; Christoph K. Hofer; Daen Jannis; Armand Béché; Johan Verbeeck; et al 出版日期：2022-08-22 |
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