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 Thickness measurement of thin films using atomic force microscopy based scratching 基于划痕的原子力显微镜薄膜厚度测量
相关领域
刮伤
原子力显微镜
材料科学
复合材料
纳米技术
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期刊：Surface Topography Metrology and Properties 作者：Borislav Vasić; Sonja Aškrabić 出版日期：2024-06-01 |
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