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Investigation of Program Efficiency Overshoot in 3D Vertical Channel NAND Flash with Randomly Distributed Traps 相关领域
与非门
随机性
计算机科学
超调(微波通信)
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期刊:Nanomaterials 作者:Chanyang Park; Jun-Sik Yoon; Kihoon Nam; Hyundong Jang; Min Sang Park; et al 出版日期:2023-04-24 |
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