| 标题 |
Characterization of As-grown and annealed GaAs: Structural defects and electrical properties
生长和退火GaAs的表征:结构缺陷和电学性质
相关领域
表征(材料科学)
材料科学
退火(玻璃)
电阻率和电导率
光电子学
工程物理
复合材料
纳米技术
电气工程
物理
工程类
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AI链接 harvard.edu |
| DOI |
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| 其它 |
期刊: 作者:Byung‐Teak Lee 出版日期:1988-07-01 |
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