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 Bias Temperature Instability and Junction Temperature Measurement Using Electrical Parameters in SiC Power MOSFETs SiC功率MOSFET的偏置温度不稳定性和结温测量
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期刊：IEEE Transactions on Industry Applications 作者：Jose Ortiz Gonzalez; Olayiwola Alatise 出版日期：2020-12-15 |
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