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Grazing Incidence X-Ray Diffraction Study of Tantalum Thin Films 钽薄膜的掠入射X射线衍射研究
相关领域
钽
衍射
材料科学
入射(几何)
X射线晶体学
薄膜
光学
冶金
物理
纳米技术
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| 其它 |
期刊:Journal of Surface Investigation X-ray Synchrotron and Neutron Techniques 作者:P. A. Yunin; Yu. N. Drozdov; N. S. Gusev 出版日期:2018-07-01 |
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