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 UV LED reliability: degradation mechanisms and challenges 紫外LED可靠性：退化机制与挑战
相关领域
发光二极管
光电子学
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材料科学
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量子隧道
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期刊： 作者：Matteo Meneghini; Francesco Piva; Carlo De Santi; Nicola Trivellin; Matteo Buffolo; et al 出版日期：2022-03-05 |
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