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In situ monitoring of flip chip package process using thermal resistance network method and active thermography 热阻网络法和主动热成像对倒装芯片封装过程的原位监测
相关领域
热成像
微电子
材料科学
倒装芯片
原位
炸薯条
红外线的
过程(计算)
复合材料
计算机科学
光电子学
光学
电信
操作系统
物理
胶粘剂
图层(电子)
气象学
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期刊:International Journal of Heat and Mass Transfer 作者:Bin Zhou; Jianxin Qiao; Yunkang Su; Wentao Huang; Longqiu Li 出版日期:2024-03-12 |
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