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Temperature- and thickness-dependence of robust out-of-plane ferroelectricity in CVD grown ultrathin van der Waals α-In2Se3 layers |
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期刊:Nano Research 作者:Weng Fu Io; Shuoguo Yuan; Sin Yi Pang; Lok Wing Wong; Jiong Zhao; et al 出版日期:2020-01-15 |
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