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Thermal stability enhancement of low temperature Cu-Cu bonding using metal passivation technology for advanced electronic packaging 先进电子封装用金属钝化技术增强低温Cu-Cu键合的热稳定性
相关领域
钝化
材料科学
热压连接
热稳定性
堆积
晶界
复合材料
温度循环
透射电子显微镜
空隙(复合材料)
图层(电子)
耐久性
倒装芯片
热的
直接结合
光电子学
引线键合
金属
冶金
电子包装
阳极连接
薄膜
压力(语言学)
扩散焊
金属键合
硅
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期刊: 作者:Mu-Ping Hsu; Tai-Yu Lin; Hua-Jing Huang; Chiao-Yen Wang; Tsai-Fu Chung; et al 出版日期:2025-12-13 |
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