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Reliable Aluminum Wire-Bonded SiC/Si Diodes With Laminated Al/Cu Stress Buffers
可靠的铝丝键合SiC/Si二极管,具有层压Al/Cu应力缓冲器
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Xiaodi Li; Guo-Quan Lu; Yun-Hui Mei 出版日期:2022-01-01 |
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