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XPS characterisation of in situ treated lanthanum oxide and hydroxide using tailored charge referencing and peak fitting procedures
使用定制电荷参考和峰拟合程序对原位处理的氧化镧和氢氧化镧进行XPS表征
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期刊:Journal of electron spectroscopy and related phenomena 作者:Martin Fleissner Sunding; K. Hadidi; Spyros Diplas; Ole Martin Løvvik; Truls Norby; et al 出版日期:2011-07-01 |
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