| 标题 | 
                                                                                                                                                                     Ultrahigh Detectivity and Wide Dynamic Range Ultraviolet Photodetectors Based on BixSn1–xO2 Intermediate Band Semiconductor                                                    基于BixSn1-xO2中间带半导体的超高探测率和宽动态范围紫外光探测器 
                                                        相关领域 
                                                            
                                                                                                                                    
                                                                        
                                                                            光电探测器                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            响应度                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            材料科学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            光电子学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            紫外线                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            半导体                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            带隙                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            比探测率                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            量子效率                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            暗电流                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                 
                                                         | 
                                            
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| DOI | |
| 其它 | 
                                                        期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Shusheng Pan; Qianwen Liu; Junqian Zhao; Guanghai Li 出版日期:2017-07-28  | 
                                                
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