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  Reliability characteristics and conduction mechanisms in resistive switching memory devices using ZnO thin films ZnO薄膜电阻开关存储器件的可靠性特性和导电机制
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期刊：Nanoscale Research Letters 作者：Fu‐Chien Chiu; Pengwei Li; Wen-Yuan Chang 出版日期：2012-03-08 |
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