| 标题 |
[高分]
  Contactless defects detection using modulated photoluminescence technique: model for a single Shockley-Read-Hall trap in a semiconductor thin layer 使用调制光致发光技术的非接触缺陷检测：半导体薄层中单个肖克利-里德-霍尔陷阱的模型
相关领域
薄脆饼
半导体
参数统计
光致发光
表征（材料科学）
材料科学
光电子学
载流子寿命
信号（编程语言）
硅
计算机科学
纳米技术
统计
数学
程序设计语言
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期刊：EPJ Photovoltaics 作者：Baptiste Bérenguier; Alban Asseko; Hiba Haddara; Sylvain Le Gall; Jean‐Paul Kleider; et al 出版日期：2025-01-01 |
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