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 Intercalation-Induced Interlayer and Defect Engineering in Ti3C2Tx MXene for Ultralow-Reflection Electromagnetic Interference Shielding Ti3C2Tx MXene超低反射电磁干扰屏蔽中的插层诱导夹层和缺陷工程
相关领域
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期刊：ACS Nano 作者：Ruosong Li; Youpeng Huangfu; Lulu Liu; Jiashun Hu; Dan Zeng; et al 出版日期：2025-01-07 |
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